Change search
CiteExportLink to record
Permanent link

Direct link
Cite
Citation style
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Other style
More styles
Language
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Other locale
More languages
Output format
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Konstruktion av generisk testmiljö för inbyggda system
KTH, School of Industrial Engineering and Management (ITM), Machine Design (Dept.).
KTH, School of Industrial Engineering and Management (ITM), Machine Design (Dept.).
2013 (Swedish)Independent thesis Advanced level (degree of Master (Two Years)), 20 credits / 30 HE creditsStudent thesisAlternative title
Construction of generic test environment for embedded systems (English)
Abstract [sv]

Data Respons AB utvecklar skräddarsydda inbyggda system. Systemen består av allt mellan modifierade datorer baserade på x86-arkitekturen till enklare mikrokontroller. Syftet med detta examensarbete var att utvärdera och utveckla metoder för att testa dessa system. Målet var att identifiera testmetoder/lösningar för att göra test av inbyggda system snabbare, mer träffsäkra och med bättre spårbarhet. Arbetet omfattade analys av befintliga hårdvarutester och testdokumentation, design av kompleterande testmetoder samt implementation av dessa. Analysarbetet innefattade hur Data Respons arbetar med tester av inbyggda system, från utveckling och montering till felanalys. Intervjuer gjordes, stöddokumentation och rutiner analyserades. Identifierade problem omarbetades till krav som användes för att utvärdera befintliga produkter samt behovet av skräddarsydda lösningar. Ett testexekveringsramverk utvecklades i C++ Qt för att automatisera hårdvarutester genom att minimera manuella rutiner kring utförandet av test och dokumentation av test. En utvärdering av testmetoden Boundary Scan utfördes. Testmetoden möjliggör hårdvarutesterav kretskort med hjälp av kretskortskomponenternas inbyggda testfunktioner. Metoden möjliggör testning av delar av kretskortet som normalt inte nås med någon annan testmetod. Boundary Scan gör det möjligt för utvecklare att isolera fel i hårdvaran utan att blanda in dess mjukvara. En utvärdering av testverktyget elektronisk last utfördes. En sådan kan emulera olika typer av elektriska laster, vilket används för att testa kretsar som levererar ström. Många fel i elektriska system kan härledas till en felande strömkrets. Att testa dessa är avgörande för att uppnå hög tillförlitlighet.

Abstract [en]

Data Respons AB develop custom embedded systems, ranging from modified PCs to microcontrollers used to do specific tasks. The purpose of this master thesis is to analyse how to make tests of embedded systems faster, more accurate, easier to reproduce and quality assured. The purpose is also to implement a solution to these needs as much and well as possible. The work covered how Data Respons work with tests of embedded systems, from development and assembly to fault analysis. It starts with a general analysis of improvements regarding tests. Interviews were held, support documentation and routines regarding test were examined. Identified problems and needs for improvements were reworked to requirements. Requirements were mapped to existing products and the need for custom made test software. The result was a solution package containing: A test execution framework. This test software is used to automate tests and reduce manual procedures and interactions with the system under test. The solution also dramatically reduces the work involved with logging the tests. An implementation of the test method Boundary scan. This tests method enables hardware testson a physical layer of a printed circuit board (PCB) and enables testing of parts of the PCB unreachable with any other test method. Boundary scan also enables developers to identify if a fault is caused by hardware or software. An evaluation of electronic load. An electronic load is an equipment that can emulate the load of a circuit that produces electric power. Testing power circuits with the real load can be dangerous, noisy or inconvenient. Many failed systems have a root cause in a failed power circuit. Testing these are crucial for a high reliability.

Place, publisher, year, edition, pages
2013.
Series
MMK 2013:85 MDA 423
National Category
Engineering and Technology
Identifiers
URN: urn:nbn:se:kth:diva-168928OAI: oai:DiVA.org:kth-168928DiVA: diva2:819181
Available from: 2015-10-15 Created: 2015-06-09 Last updated: 2015-10-15Bibliographically approved

Open Access in DiVA

fulltext(14568 kB)131 downloads
File information
File name FULLTEXT01.pdfFile size 14568 kBChecksum SHA-512
b5e138b50806082e27e4979b0ceaa9635bbcd0a8d68e1dd8929b1b987fcfb41bfd8e679af884b2395797ee22c320cc6fd4499d044cba4f5e40c576f0428a3665
Type fulltextMimetype application/pdf

By organisation
Machine Design (Dept.)
Engineering and Technology

Search outside of DiVA

GoogleGoogle Scholar
Total: 131 downloads
The number of downloads is the sum of all downloads of full texts. It may include eg previous versions that are now no longer available

urn-nbn

Altmetric score

urn-nbn
Total: 93 hits
CiteExportLink to record
Permanent link

Direct link
Cite
Citation style
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Other style
More styles
Language
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Other locale
More languages
Output format
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf