Thick film cermet resistors, adjusted by conventional trimming methods, undergo irreversible changes in successive deformation cycles. In this work the stability of resistors adjusted by laser irradiation is evaluated. Resistance, thermal coefficient of resistance, and strain gauge factor in resistors with and without surface treatment are studied. The irradiated surface was characterized by Auger spectroscopy.
Los resistores de película gruesa tipo cermet, ajustados por el método convencional de recorte, sufren cambios irreversibles en ciclos sucesivos de deformación. En este trabajo se evalúa la estabilidad de resistores ajustados por irradiación láser. Se estudian la resistencia, coeficiente térmico de resistencia y factor extensométrico de resistores con y sin tratamiento superficial. La superficie irradiada fue caracterizada por espectroscopía Auger.