Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
An electron energy loss spectrometer based streak camera for time resolved TEM measurements
Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Tillämpad materialvetenskap.ORCID-id: 0000-0002-8262-5893
Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och astronomi, FREIA. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och astronomi, Högenergifysik.
Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Tillämpad materialvetenskap.ORCID-id: 0000-0003-1050-8441
Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Tillämpad materialvetenskap. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik.
Visa övriga samt affilieringar
2017 (Engelska)Ingår i: Ultramicroscopy, ISSN 0304-3991, E-ISSN 1879-2723, Vol. 176, s. 5-10Artikel i tidskrift (Refereegranskat) Published
Abstract [en]

We propose an experimental setup based on a streak camera approach inside an energy filter to measure time resolved properties of materials in the transmission electron microscope (TEM). In order to put in place the streak camera, a beam sweeper was built inside an energy filter. After exciting the TEM sample, the beam is swept across the CCD camera of the filter. We describe different parts of the setup at the example of a magnetic measurement. This setup is capable to acquire time resolved diffraction patterns, electron energy loss spectra (EELS) and images with total streaking times in the range between 100 ns and 10 μs.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2017. Vol. 176, s. 5-10
Nyckelord [en]
Time resolved; TEM; Energy filter; Streak camera; Sweep
Nationell ämneskategori
Fysik Teknik och teknologier
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:uu:diva-329982DOI: 10.1016/j.ultramic.2016.11.026ISI: 000403992200003OAI: oai:DiVA.org:uu-329982DiVA, id: diva2:1144049
Tillgänglig från: 2017-09-25 Skapad: 2017-09-25 Senast uppdaterad: 2017-11-20Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltext

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Ali, HasanEriksson, JohanLi, HuJafri, S. Hassan M.Kumar, M. S. SharathÖgren, JimZiemann, VolkerLeifer, Klaus
Av organisationen
Tillämpad materialvetenskapFREIAHögenergifysikFasta tillståndets fysikInstitutionen för fysik och astronomi
I samma tidskrift
Ultramicroscopy
FysikTeknik och teknologier

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
urn-nbn
Totalt: 505 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf