Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
LabView Based Measurement System Design for Data Acquisition During HTOL Tests at TranSIC AB
KTH, Skolan för elektro- och systemteknik (EES), Mikrosystemteknik.
2011 (Engelska)Självständigt arbete på avancerad nivå (yrkesexamen), 20 poäng / 30 hpStudentuppsats (Examensarbete)
Abstract [en]

TranSIC AB needs to conduct High Temperature Operating Life (HTOL) tests on silicon carbide transistors in order to ensure product reliability and gather information for development purposes. The goal of this master thesis was to select measurement related hardware and develop LabView software capable of controlling and monitoring up to 48 transistors during HTOL tests. National Instruments cDAQ and Agilent 34972A were compared for data acquisition purposes. Calculations and hardware requirements resulted in the purchase and system integration of a Agilent 34972A data logger with three 34901A 20 channel multiplexer expansion cards. LabView software was programmed using a extended Producer/Consumer Design Pattern as the main structure. Software requirements was fulfilled using SubVIs for both user visible windows and functionality related data handling. The finished software fulfilled all initial requirements but several possible future improvements are suggested. The system is now in full scale use at TranSIC AB.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2011. , s. 67
Serie
EES Examensarbete / Master Thesis ; XR-EE-MST 2011:009
Nationell ämneskategori
Teknik och teknologier
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:kth:diva-91733OAI: oai:DiVA.org:kth-91733DiVA, id: diva2:511152
Uppsök
teknik
Examinatorer
Tillgänglig från: 2012-03-20 Skapad: 2012-03-20 Senast uppdaterad: 2012-03-20Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

fulltext(3528 kB)2004 nedladdningar
Filinformation
Filnamn FULLTEXT01.pdfFilstorlek 3528 kBChecksumma SHA-512
db8a39fd8c2bdd128d8e3e678ef271c965a21ed70913816f6c0c7c1e79e6e0f3b581a7693638666d9a8223e26d30583173e20df181584fb719d9937d8bc6f6ba
Typ fulltextMimetyp application/pdf

Av organisationen
Mikrosystemteknik
Teknik och teknologier

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar
Totalt: 2004 nedladdningar
Antalet nedladdningar är summan av nedladdningar för alla fulltexter. Det kan inkludera t.ex tidigare versioner som nu inte längre är tillgängliga.

urn-nbn

Altmetricpoäng

urn-nbn
Totalt: 303 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf