Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Towards an almost c-testable NoC test strategy
KTH, Skolan för informations- och kommunikationsteknik (ICT), Elektronik- och datorsystem, ECS.
Jönköpings Tekniska Högskola.
KTH, Skolan för informations- och kommunikationsteknik (ICT), Elektronik- och datorsystem, ECS.ORCID-id: 0000-0002-8072-1742
2007 (Engelska)Ingår i: Proceedings of the IEEE East-West Design and Test Symposium, 2007Konferensbidrag, Publicerat paper (Refereegranskat)
Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2007.
Nationell ämneskategori
Annan elektroteknik och elektronik
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:kth:diva-78820OAI: oai:DiVA.org:kth-78820DiVA, id: diva2:492913
Konferens
IEEE 5th East-West Design and Test Symposium, EWDTS-07. Yerevan, Armenia. 7-10 September 2007
Anmärkning
Best Paper Award. QC 20120516Tillgänglig från: 2012-02-08 Skapad: 2012-02-08 Senast uppdaterad: 2012-05-16Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Petersén, KimÖberg, Johnny
Av organisationen
Elektronik- och datorsystem, ECS
Annan elektroteknik och elektronik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

urn-nbn

Altmetricpoäng

urn-nbn
Totalt: 33 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf