Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Efficient Test Application for Rapid Multi-Temperature Testing
Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, Programvara och system. Linköpings universitet, Tekniska fakulteten.
Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, Programvara och system. Linköpings universitet, Tekniska fakulteten.
Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, Programvara och system. Linköpings universitet, Tekniska fakulteten.
2015 (Engelska)Ingår i: Proceedings of the 25th edition on Great Lakes Symposium on VLSI, Association for Computing Machinery (ACM), 2015, 3-8 s.Konferensbidrag, Publicerat paper (Övrigt vetenskapligt)
Abstract [en]

Different defects may manifest themselves at different temperatures. Therefore, the tests that target such temperature-dependent defects must be applied at different temperatures appropriate for detecting them. Such multi-temperature testing scheme applies tests at different required temperatures. It is known that a test's power dissipation depends on the previously applied test. Therefore, the same set of tests when organized differently dissipates different amounts of power. The technique proposed in this paper organizes the tests efficiently so that the resulted power levels lead to the required temperatures. Consequently a rapid multi-temperature testing is achieved. Experimental studies demonstrate the efficiency of the proposed technique.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
Association for Computing Machinery (ACM), 2015. 3-8 s.
Nyckelord [en]
Temperature-dependent defects, multi-temperature testing, temperature simulation, test ordering, test scheduling, 3D stacked IC (3D-SIC)
Nationell ämneskategori
Datavetenskap (datalogi)
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-129003DOI: 10.1145/2742060.2742064ISBN: 978-1-4503-3474-7 (tryckt)OAI: oai:DiVA.org:liu-129003DiVA: diva2:934137
Konferens
Great Lakes Symposium on VLSI, Pittsburgh, Pennsylvania, USA, May 20-22, 2015
Tillgänglig från: 2016-06-08 Skapad: 2016-06-08 Senast uppdaterad: 2016-06-23Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas

Övriga länkar

Förlagets fulltext

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Aghaee Ghaleshahi, NimaPeng, ZeboEles, Petru
Av organisationen
Programvara och systemTekniska fakulteten
Datavetenskap (datalogi)

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
isbn
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
isbn
urn-nbn
Totalt: 79 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf