Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Temperature-Gradient-Based Burn-In and Test Scheduling for 3-D Stacked ICs
Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, Programvara och system. Linköpings universitet, Tekniska fakulteten.
Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, Programvara och system. Linköpings universitet, Tekniska fakulteten.
Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, Programvara och system. Linköpings universitet, Tekniska fakulteten.
2015 (Engelska)Ingår i: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (vlsi) Systems, ISSN 1063-8210, E-ISSN 1557-9999, Vol. 23, nr 12, 2992-3005 s.Artikel i tidskrift (Refereegranskat) Published
Abstract [en]

Large temperature gradients exacerbate various types of defects including early-life failures and delay faults. Efficient detection of these defects requires that burn-in and test for delay faults, respectively, are performed when temperature gradients with proper magnitudes are enforced on an Integrated Circuit (IC). This issue is much more important for 3-D stacked ICs (3-D SICs) compared with 2-D ICs because of the larger temperature gradients in 3-D SICs. In this paper, two methods to efficiently enforce the specified temperature gradients on the IC, for burn-in and delay-fault test, are proposed. The specified temperature gradients are enforced by applying high-power stimuli to the cores of the IC under test through the test access mechanism. Therefore, no external heating mechanism is required. The tests, high power stimuli, and cooling intervals are scheduled together based on temperature simulations so that the desired temperature gradients are rapidly enforced. The schedule generation is guided by functions derived from a set of thermal equations. The experimental results demonstrate the efficiency of the proposed methods.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2015. Vol. 23, nr 12, 2992-3005 s.
Nyckelord [en]
3-D stacked IC (3-D SIC) test, burn-in, temperature gradients, test scheduling, test scheduling
Nationell ämneskategori
Datavetenskap (datalogi)
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-123487DOI: 10.1109/TVLSI.2014.2380477ISI: 000365206300022OAI: oai:DiVA.org:liu-123487DiVA: diva2:885516
Tillgänglig från: 2015-12-18 Skapad: 2015-12-18 Senast uppdaterad: 2017-03-28

Open Access i DiVA

fulltext(1109 kB)134 nedladdningar
Filinformation
Filnamn FULLTEXT01.pdfFilstorlek 1109 kBChecksumma SHA-512
5f6961d1ce77abdc0fc03feefd09a56d393da2defe1fb042131e9eb9685e56722c67377614693ac71783c80f09327912fa9822e6a679858735c58d15cad6ec7a
Typ fulltextMimetyp application/pdf

Övriga länkar

Förlagets fulltexthttp://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?arnumber=7004891

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Aghaee, NimaPeng, ZeboEles, Petru
Av organisationen
Programvara och systemTekniska fakulteten
I samma tidskrift
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (vlsi) Systems
Datavetenskap (datalogi)

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar
Totalt: 134 nedladdningar
Antalet nedladdningar är summan av nedladdningar för alla fulltexter. Det kan inkludera t.ex tidigare versioner som nu inte längre är tillgängliga.

Altmetricpoäng

Totalt: 308 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf